產(chǎn)品展示PRODUCTS

您當(dāng)前的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 測試儀 > 測量儀 > 日本optiworks非接觸式三維測量系統(tǒng) 光學(xué)測量儀

日本optiworks非接觸式三維測量系統(tǒng) 光學(xué)測量儀

更新日期：2024-05-17

訪問量：1647

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

日本optiworks非接觸式三維測量系統(tǒng)
可以測量任何表面。多功能、非接觸、高精度形狀光學(xué)頭
粗糙表面、鏡面形狀（金屬、橡膠、玻璃、皮革、彈性體、液體表面等）的非接觸測量

在線詢價聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹

日本optiworks非接觸式三維測量系統(tǒng)

特征

可以測量任何表面。多功能、非接觸、高精度形狀光學(xué)頭粗糙表面、鏡面形狀（金屬、橡膠、玻璃、皮革、彈性體、液體表面等）的非接觸測量

同時測量兩者的反射光透明物體的前后表面非接觸式厚度測量、與參考面的比較間隙測量、表面粗糙度測量

具有高自由度的模塊化系統(tǒng)允許您配置適合您應(yīng)用的系統(tǒng)。

通過組合兩種類型的光學(xué)模塊（放大鏡頭和測量鏡頭），您可以選擇適合您應(yīng)用的規(guī)格，例如測量點(diǎn)直徑、測量范圍、分辨率，您可以選擇創(chuàng)建系統(tǒng)。測量數(shù)據(jù)可實(shí)時輸出，無需除載物臺以外的任何物理驅(qū)動元件。

配置光學(xué)筆

測量原理（共焦色譜法）

“光學(xué)筆"在共焦成像光學(xué)系統(tǒng)中使用了具有色差的成像鏡頭。從點(diǎn)光源S（白光源）射出的光，根據(jù)波長在S'上形成不同的成像點(diǎn)（λI）。之后，我們再次通過相同的成像系統(tǒng)返回，僅以最大效率檢測在 S" 上的針孔上重新成像的最銳利的波長成分，而其他波長成分的成像被阻擋。光譜儀和線性傳感器檢測被測物體的深度。該光學(xué)系統(tǒng)的一大優(yōu)點(diǎn)是可以在不受環(huán)境光影響的情況下表現(xiàn)出高精度的空間分辨率。

日本optiworks非接觸式三維測量系統(tǒng)

運(yùn)用示例